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产品名称:
紫外/可见/近红外光分光光谱仪
产品型号:
产品展商:
OTSUKA大冢光学
折扣价格:
0.00 元
关注指数:353
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多通道分光光谱仪高速量测紫外光(UV)、可见光(VIS)、近红外光(NIR)光谱。
功能丰富的专用软体，可进行显微分光、发光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光谱量测。
*适用于低辉度(0.3cd/m2)，如萤光、电浆发光等微弱光以及光源、显示器量测。
16msec的高速光谱解析。
灵活坚固的光纤搭配多元的选配附件，可架设于生产线上、真空环境或嵌入于现有设备中即时性量测。
紫外/可见/近红外光分光光谱仪
的详细介绍
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多通道分光光谱仪高速量测紫外光(UV)、可见光(VIS)、近红外光(NIR)光谱。
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功能丰富的专用软体，可进行显微分光、发光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光谱量测。
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*适用于低辉度(0.3cd/m2)，如萤光、电浆发光等微弱光以及光源、显示器量测。
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16msec的高速光谱解析。
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灵活坚固的光纤搭配多元的选配附件，可架设于生产线上、真空环境或嵌入于现有设备中即时性量测。
量测项目
产品规格
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28C
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310C
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3595C
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SC
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波长范围
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220~800 nm
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300~1000 nm
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350~950 nm
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380~780 nm
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分光元件
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全息成像光栅、F=3、f=135mm
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波长精度*1
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±0.3 nm
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±0.5 nm
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±0.3 nm
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±0.3 nm
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感光元件*2
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电子制冷型光电二极管阵列(PDA)
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512ch
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1024ch
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512ch>
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1024ch
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512ch
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1024ch
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512ch
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1024ch
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解析能力
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1.2nm
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0.6nm
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1.7nm
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0.9nm
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1.3nm
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0.6nm
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0.9nm
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0.5nm
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曝光时间*3
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16msec ～ 20sec
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光纤规格
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石英制光纤、固定口径φ12mm、长约1m
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通讯介面
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USB or LAN
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尺寸重量
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300(W)x 170(H)x 350(D)mm、约10kg
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*1 波长校正用光源对汞物理辉线之确认值
*2 可选择512ch或1024ch
*3 感度设定为Normal时
应用范围
■ 发光光谱分析仪系统
■ 反射光谱分析仪系统
■ 穿透、吸收光谱分析仪系统
■ 色度光谱分析仪系统
■ 光源光谱分析仪系统(色度/辉度/照度)
■ 膜厚光谱分析仪系统
■ 萤光光谱分析仪系统
■ 双折射相位差光谱分析仪
■ 微光学元件光谱分析仪系统
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