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产品名称:
量子效率量测系统
产品型号:
cp-005
产品展商:
OTSUKA大冢光学
折扣价格:
0.00 元
关注指数:321
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藉由**量子效率量测内部量子效率、外部量子效率。
可量测粉体、固体、液体、薄膜样品量子效率。
采用多通道分光光谱仪，可大幅降低紫外波长的杂散光。
搭配积分半球系统(HalfMoon)，可消除再激发的萤光发光。
激发光源采用光栅搭配滤光镜分光，可任意选择波长。
使用BaSO4校正精度与量测再现性。
备有可自动变温量测(～300℃)的温控套件。(QE-2100)
量子效率量测系统
的详细介绍
产品特点
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藉由**量子效率量测内部量子效率、外部量子效率。
-
可量测粉体、固体、液体、薄膜样品量子效率。
-
采用多通道分光光谱仪，可大幅降低紫外波长的杂散光。
-
搭配积分半球系统(HalfMoon)，可消除再激发的萤光发光。
-
激发光源采用光栅搭配滤光镜分光，可任意选择波长。
-
使用BaSO4校正精度与量测再现性。
-
备有可自动变温量测(～300℃)的温控套件。(QE-2100)
系统构成图
产品规格
降低杂散光的多通道分光光谱仪
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波长范围
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250nm ～800nm (视光谱仪规格)
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光谱仪分光元件
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全息成像光栅、F=3、f=135mm
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波长精度
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±0.3 nm
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感光元件
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电子冷却型CCD影像感测器
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感光元件解析能力
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1.2nm / pixel
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受光光纤
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石英制光纤、外层金属包覆、固定口径φ12mm
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激发光源系统
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激发光源套件
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250nm ～800nm (视光谱仪规格)
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激发波长范围
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全息成像光栅、F=3、f=135mm
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波长扫描方式
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±0.3 nm
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其它
电源
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消耗电力
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700VA
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AC输入
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100V ±10% 50 / 60Hz
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量测范围