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近场分布光度计(配有成像亮度计)[产品打印页面]

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 近场分布光度计(配有成像亮度计)
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产品展商: OTSUKA大冢光学
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关注指数:305
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简单介绍

通过多点表面亮度配光测量方法,测量精度高且省空间 由二维亮度感应器测量多点表面亮度配光 测角仪自动测量 通过画像可确认样品的设置 通过模拟计算任意位置的光强、亮度 测量评价光强·亮度的强度·色度分布 计算光通量功能 对应IES格式输出

近场分布光度计(配有成像亮度计)

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产品特点

  • 通过多点表面亮度配光测量方法,测量精度高且省空间
  • 由二维亮度感应器测量多点表面亮度配光
  • 测角仪自动测量
  • 通过画像可确认样品的设置
  • 通过模拟计算任意位置的光强、亮度
  • 测量评价光强·亮度的强度·色度分布
  • 计算光通量功能
  • 对应IES格式输出

产品规格

转动平台 *小设定角度0.1°
测量角度范围 X轴 -90°~ 90°、Y轴 -90°~ 90°
*小设定间隔 0.1°以上
分辨率 0.1°以下
检测器 二维亮度感应器(AD 12 bit)
测量波长范围 380 ~ 780  nm (配有Y亮度过滤器)
测量区域大小 270 x 200 mm
测量亮度范围 10  cd/m² 以上(由ND过滤调光)
镜头 f 8 mm
测量时间 约5分(XY两轴±90°移动间隔1°:180x180 点)
样品大小 回转中心至半径 宽 230mm / 高 400mm
  *测量区域大小及可测量样品大小
   可根据测量对象和测量用途可通过特殊需求对应

系统架构

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应用范围

■ 测量LCD、背光源的视野角特性
■ 测量裸眼3D显示的串扰
■ 汽车前灯、室内灯
■ 路灯、投光灯
■ LED封装、芯片、模组
■ 有机EL
■ 材料的反射、散乱特性

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