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产品名称:
CIE平均化LED光度量测系统
产品型号:
cp-001
产品展商:
OTSUKA大冢光学
折扣价格:
0.00 元
关注指数:494
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采用符合CIE平均化LED光强度量测规范之光学架构。
搭配自动量测平台可对应LED阵列光度量测。
采用高动态范围光谱仪分光，可检测HDR光谱。
备有电源供应器，可自动变更电压、电流进行量测。(选配)
备有温度控制器，可自动变更温度进行量测。(选配)
CIE平均化LED光度量测系统
的详细介绍
产品特点
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采用符合CIE平均化LED光强度量测规范之光学架构。
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搭配自动量测平台可对应LED阵列光度量测。
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采用高动态范围光谱仪分光，可检测HDR光谱。
-
备有电源供应器，可自动变更电压、电流进行量测。(选配)
-
备有温度控制器，可自动变更温度进行量测。(选配)
量测项目
量测项目
・CIE平均化LED光度〔JIS C8152〕
・放射光通量(光谱)
・色度座标(u,v)〔CIE 1960UCS〕
・色度座标(x,y)〔JIS Z 8724〕
・色度座标(u',v')〔CIE 1976UCS〕
・相关色温与Duv〔JIS Z 8725〕
・主波长(Dominant)与刺激纯度(Purity)〔JIS Z 8701:1999〕
・演色指数(Ra,R1～R15 )〔JIS Z 8726〕
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视角 [sr]
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距离 [m]
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Condition A
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0.001(2deg.)
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0.316
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Condition B
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0.01(6.5deg.)
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0.100
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Condition A
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Condition B
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