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产品名称:
低相位差高速检测设备
产品型号:
cp-001
产品展商:
OTSUKA大冢光学
折扣价格:
0.00 元
关注指数:416
产品文档:
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可测量从0nm开始的低相位差(残留应力)。
检测光学轴的同时，同步高速测量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同时量测)
偏光检测仪无任何驱动元件干扰，可提高再现性量测精度。
无需复杂参数设定，操作简单易懂。
550nm以外，亦可支援其它波长量测。
Rth量测、全角度量测。(需搭配自动旋转倾斜装置)
搭配拉力测试机可同时量测薄膜偏光特性与光弹性。(特殊规格)
低相位差高速检测设备
的详细介绍
产品特点
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可测量从0nm开始的低相位差(残留应力)。
-
检测光学轴的同时，同步高速测量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同时量测)
-
偏光检测仪无任何驱动元件干扰，可提高再现性量测精度。
-
无需复杂参数设定，操作简单易懂。
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550nm以外，亦可支援其它波长量测。
-
Rth量测、全角度量测。(需搭配自动旋转倾斜装置)
-
搭配拉力测试机可同时量测薄膜偏光特性与光弹性。(特殊规格)
量测项目
量测原理
RE-100，系采用光结晶像素与CCD感光元件所构成的偏光检测仪。搭配带有穿透率特性的各种偏光元件，可以高速同时进行相位差与光学轴的量测。 CCD感光元件会自动撷取经过偏光后所呈现的画面进行解析。相较以往，不需要再使用任何的驱动元件来寻找偏光后的受光强度。不但可提高再现性的精度、更具备长时间使用的安定性。
产品规格
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样品尺寸
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*小10×10mm ～ *大100×100mm
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量测波长
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550nm (标准规格)*1
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相位差量测范围
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约0nm ～ 约10μm
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相位差量测精度
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0.05nm (3σ)*2
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光学轴量测精度
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0.05°(3σ)*2
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解析元件
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偏光检测仪
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量测口径
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2.2mm×2.2mm
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通讯介面
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100W 卤素灯或LED光源
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尺寸
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300(W) × 560(H) ×430(D) mm
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重量
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约20 kg
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*1 可选择其他波长
*2 量测水晶波长板之精度(约55nm，2枚型)
应用范围
■相位差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种机能性薄膜、
■树脂、玻璃等透明带有低相位差之样品(残留应力)
量测范例
■ 视野角改善膜A
■ 视野角改善膜B
选配附件
自动旋转倾斜装置