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产品名称:
相位差/光学材料量测设备
产品型号:
cp-007
产品展商:
OTSUKA大冢光学
折扣价格:
0.00 元
关注指数:355
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可更加**的量测低相位差(0.1nm～)
*适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。
检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的高精度相位差量测。
可选配倾斜式、旋转式量测平台，评估三次元折射率参数解析等视野角特性。
配合量测样品，自由架构量测平台。
相位差/光学材料量测设备
的详细介绍
产品特点
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可更加**的量测低相位差(0.1nm～)
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*适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。
-
检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的高精度相位差量测。
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可选配倾斜式、旋转式量测平台，评估三次元折射率参数解析等视野角特性。
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配合量测样品，自由架构量测平台。
量测项目
产品规格
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样品对应尺寸
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*小20×20mm -*大100×100mm
(厚度: 2.5mm以下)
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相位差量测范围
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旋转检光法
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约0nm ～ 数μm
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光干涉法
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约450nm ～ 数μm
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检测器
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分光光谱仪
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量测波长范围
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400 ～ 800nm
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量测口径
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φ1、φ2、 φ5、φ10mm
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光学系统
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偏光光学系统
消光率10-5的方解石偏光镜(Gran-tomson prism)
自动旋转(角度 精度0.1°)
自动装卸装置
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量测用光原
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100W卤素灯
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电源供应器规格
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AC100V±10V、1.5kVA
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尺寸、重量
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540(W）×580(D）×1000(H)mm, 约60kg
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应用范围
■光学薄膜
・相位差膜、椭圆膜、相位差板
・偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光学材料
■液晶层
・穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、强诱电性液晶)
・反射型液晶层(TN,STN)