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产品名称:
原厂供应光谱椭偏仪-eoptics颐光科技
产品型号:
SE-i
产品展商:
eoptics颐光科技
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eoptics颐光科技SE-i 光谱椭偏仪
针对有机/无机镀膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化开发,可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,椭偏测量头快速实现光学薄膜原位表征分析。
原厂供应光谱椭偏仪-eoptics颐光科技
的详细介绍
eoptics颐光科技SE-i 光谱椭偏仪
针对有机/无机镀膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化开发,可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,椭偏测量头快速实现光学薄膜原位表征分析。
ME-L
ME-Mapping
SE-VM
SE-VE
SE-PV
SE-VF
SE-i
SR-i
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RT-V
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SR-C
XE
代 理日 本各类工业品:日本SAN-EI TECH三英,MUSASHI武藏,Nordson诺信EFD,IEI岩下,aicohsha爱工舍ACM(特殊立式搅拌机),KLEENTEK可滤特,ASAHIKASEI旭化成,TAGAWA十川,YODOGAWA淀川电机,MALCOM马康,USHIO牛尾,SHOWA DENKI昭和电机,TSUBAKI椿本,morite茉 莉特,KIKUSUI菊水,HOZAN宝山,TRUSCO中山,cedar思达,MEISEI迈泽(电热剥线器)、SANKO山高(金属探测器、膜厚仪)、TAKASAGO高砂制作所 (直流电源)MITSUBISHI三菱 (UPS电源、PLC自动化)
CCS光源(视觉光源、检查光源)、Tsubosaka壶坂(灯箱、光度计、辉度箱、光源)、POLARION普拉瑞(探照灯、HID强光灯、检查灯)AITEC艾泰克(检查光源)、Iwasaki岩崎(金卤灯、HID灯、UV灯)
OTSUKA大塚电子(光学膜厚仪、相位差测试仪、粒度仪)、LUCEO鲁西欧(表面应力仪、偏光应力仪)
KYOWA共和(应变片、压力传感器)、ONOSOKKI小野测器(传感器、检测仪)
CKD(气动元件、电缸)、FUJIKURA藤仓(单向阀、泄压阀、摩擦气缸)
TOKISANGYO东机产业(粘度计)、ASKER高分子计器(橡胶硬度计、试验机)SK新泻精机(水平尺、水平测量仪器)SKSATO佐藤(温度计、温度记录仪)、上海一恒仪器 (恒温箱、烘箱、)、TECLOCK得乐(硬度计、千分表)、AND爱安得(电子天平、工业天平)、KEM京都电子(水分仪、自动电位滴定仪)
TOHNICHI东日(扭力扳手、螺丝刀)KANON中村(电动螺丝刀、扭力工具)
Heishin兵神(泵、点胶机)、KOKUSAN科库森离心机、YUASA汤浅(柔性屏弯折试验机)、
SIMCO思美高,SSD西西蒂,DIT东日技研,KASUGA春日,TRINC高柳(静电仪器设备)、Kanetec强 力(磁力设备、高斯计)
ASONE亚速旺(实验室仪器、车间穿戴装备)、SAKURAI樱井(无尘纸、热敏纸)、Nitto-Kohki日东工器(快速接头)、NIRECO 尼利可(电动执行器、传感器)