武汉eoptics颐光科技-进口光谱椭偏仪[产品打印页面]

Mapping系列光谱椭偏仪是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，采用行业前沿**技术，配置全自动Mapping运动机构，通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片的膜厚及光学参数自定义绘制化测量表征。

一、概述

     ME-Mapping 光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，采用行业前沿**技术，配置全自动Mapping测量模块，通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征和分析。

■ 全基片椭偏绘制化测量解决方案；

■ 支持产品设计以及功能模块定制化，一键绘制测量；

■ 配置Mapping模块，全基片自定义多点定位测量能力；

■ 丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力

二、产品特点

■ 采用氘灯和卤素灯复合光源，光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)；

■ 高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；

■ 数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料；

三、产品应用

      ME-Mapping广泛应用OLED，LED，光伏，集成电路等工业应用中,实现大尺寸全基片膜厚、光学常数以及膜厚分布快速测量与表征。

ME-L

ME-Mapping

SE-VM

SE-VE

SE-PV

SE-VF

SE-i

SR-i

SR-M

RT-V

SR-Mapping

SR-C

XE

代 理日 本各类工业品：日本SAN-EI TECH三英，MUSASHI武藏，Nordson诺信EFD，IEI岩下，aicohsha爱工舍ACM（特殊立式搅拌机），KLEENTEK可滤特，ASAHIKASEI旭化成，TAGAWA十川，YODOGAWA淀川电机，MALCOM马康，USHIO牛尾，SHOWA DENKI昭和电机，TSUBAKI椿本，morite茉 莉特，KIKUSUI菊水，HOZAN宝山，TRUSCO中山，cedar思达，MEISEI迈泽（电热剥线器）、SANKO山高（金属探测器、膜厚仪）、TAKASAGO高砂制作所 （直流电源）MITSUBISHI三菱 （UPS电源、PLC自动化）
CCS光源（视觉光源、检查光源）、Tsubosaka壶坂（灯箱、光度计、辉度箱、光源）、POLARION普拉瑞（探照灯、HID强光灯、检查灯）AITEC艾泰克（检查光源）、Iwasaki岩崎（金卤灯、HID灯、UV灯）
OTSUKA大塚电子（光学膜厚仪、相位差测试仪、粒度仪）、LUCEO鲁西欧（表面应力仪、偏光应力仪）
KYOWA共和（应变片、压力传感器）、ONOSOKKI小野测器（传感器、检测仪）
CKD（气动元件、电缸）、FUJIKURA藤仓（单向阀、泄压阀、摩擦气缸）
TOKISANGYO东机产业（粘度计）、ASKER高分子计器（橡胶硬度计、试验机）SK新泻精机（水平尺、水平测量仪器）SKSATO佐藤（温度计、温度记录仪）、上海一恒仪器 （恒温箱、烘箱、）、TECLOCK得乐（硬度计、千分表）、AND爱安得（电子天平、工业天平）、KEM京都电子（水分仪、自动电位滴定仪）
TOHNICHI东日（扭力扳手、螺丝刀）KANON中村（电动螺丝刀、扭力工具）
Heishin兵神（泵、点胶机）、KOKUSAN科库森离心机、YUASA汤浅（柔性屏弯折试验机）、
SIMCO思美高，SSD西西蒂，DIT东日技研，KASUGA春日，TRINC高柳（静电仪器设备）、Kanetec强 力（磁力设备、高斯计）
ASONE亚速旺（实验室仪器、车间穿戴装备）、SAKURAI樱井（无尘纸、热敏纸）、Nitto-Kohki日东工器（快速接头）、NIRECO 尼利可（电动执行器、传感器）

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