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HORIBA AFM(原子間力顕微鏡)ラマン[产品打印页面]

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简单介绍

AFM(原子間力顕微鏡)ラマン

HORIBA AFM(原子間力顕微鏡)ラマン

   的详细介绍

AFM(原子間力顕微鏡)ラマン

  • 概要
  • 仕様
  • カタログ・アプリケーション・その他資料

概要

AFM-Raman、TERS、SNOMによるナノイメージング装置

※AFM : Atomic Force Microscope(原子間力顕微鏡)
※TERS : Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (チップ増強ラマン分光)
※SNOM : Scanning Near-field Optical Microscope (走査型近接場顕微鏡)

AFM測定とラマン分光測定を同時に高速マッピング可能なナノイメージング分光装置です。ソフトウェア制御による、照射レーザ光のアライメント機構、AFMとラマン分光装置との統合ソフトウェアを搭載することで、TERSやSNOM測定装置としても容易な操作性、高速データ処理、高い信頼性を実現しました。

特長

AFM-Ramanは、簡便に材料表面の物理、化学情報を得るための有効な複合装置です。また、単にAFMとラマン分光測定を行うだけでなく、特殊なプローブを用いることでTERS、あるいはSNOMを組み合わせた測定が可能であり、AFM-Ramanはナノメートルスケールの構造解析ツールとして今後ますます発展する可能性があります。

AFM-ラマンとTERS が容易に

  • AFM、STM、SNOMなどの様々なSPM測定に対応
  • 対物レンズスキャナを用いたレーザ照射ポイントのファインアライメント
    対物レンズスキャナを用いたレーザ照射ポイントのファインアライメント
  • 垂直・斜方向に高NAの対物レンズ(0.7)を配置し、測定モードに合わせた*適な光学系を選択
    垂直・斜方向に高NAの対物レンズ(0.7)を配置
  • 1300 nm ダイオードをカンチレバーフィードバックに採用し、可視~近赤外領域においてダイオード光の干渉のない測定
    1300 nm ダイオードをカンチレバーフィードバックに採用
  • AFMヘッドを取り外さずサンプル・チップ交換。交換前後のカンチレバー位置を自動調整(交換前後で測定位置座標が同じ)
    AFMヘッドを取り外さずサンプル・チップ交換
  • カンチレバータイプおよびチューニングフォークを用いたメタルチップのTERS測定が可能
    チューニングフォークを用いたTERS測定
    チューニングフォークを用いたTERS測定
  • LabRAM HR Evolutionとの統合により、紫外~近赤外領域まで高スペクトル分解能の測定を実現
  • 1 台のPCでAFMとラマン分光装置を制御。

<TERSによるナノスケールイメージング>

表面トポグラフィとてTERSイメージを同時取得可能。

カーボンナノチューブ測定

STMイメージ

TERSイメージ

STMイメージ

TERSイメージ

カーボンナノチューブ・グラフェン測定

TERSイメージ

カーボンナノチューブ・グラフェン測定

 

ソフトウェア

スクリプト機能やワンクリックで測定できるメソッド機能を備えたHORIBAオリジナルのラマンソフトウェアLabspec6と、AFMソフトウェアを統合。AFMで測定したポイントを簡易な操作でラマン分光測定できるなど、AFM-Ramanとしての操作性を追求しました。

統合ソフトウェア

様々なタイプのAFMと正立・倒立顕微鏡タイプの顕微ラマン分光装置との統合など、カスタマイズ対応可能です。詳細は弊社にお問い合わせください。

統合ソフトウェア

製造会社: HORIBA

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