X射线荧光光谱仪FISCHER[产品打印页面]

X射线荧光光谱仪,FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-µ®,FISCHER的产品介绍：

测量系统拥有先进的多毛细孔X射线聚焦装置，既能有效地缩小测量点
的面积，又能大幅加强射线的强度。仪器配备了大面积硅漂移探测器，特别适用于在小工件上测
量超薄镀层的厚度或者进行痕量分析.

带有三种放大倍率变焦的高像素视频系统能**地定位样品，即使是非常细的线材或者是半导
体微小的接点都能高质量地显示出测量点所在位置。激光点作为辅助定位装置进一步方便了样品
的快速定位。

 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-µ®的特征：

带有铍窗口和钨钯的微聚焦X射线管，可
选钼管。*高工作条件： 50kV， 50W
·X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅漂移探
测器
·多毛细孔X射线聚焦装置，测量点约20-40
μm FWHM（半高宽）
·4个可切换基本滤片
·带弹出功能的可编程XY平台
·视频摄像头可用来实时查看测量位置，十
字线上有经过校准的刻度标尺，而测量点
实际大小也在图像中显示。

 典型应用领域：

测量PCB、引线框架和晶片上的镀层系统
测量微小工件和线材上的镀层系统
分析微小工件的材料成分