日本SDD X射线荧光光谱仪[产品打印页面]

X射线荧光光谱仪，FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®，FISCHER的产品介绍：

XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各
种底材上的Au/Ni， Au/PdNi/Ni， Ag/Ni或Sn/
Ni镀层的厚度。通常功能区都是很小的结构如尖
端或突起，测量这些区域必须使用很小的准直器
或适合样品形状的准直器。例如测量椭圆形样品
时，就要使用开槽的准直器以获得*大的信号强
度。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®的特征：

带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口
和钨靶的微聚焦X射线管。*高工作条
件:50KV,50W
X射线探测器采用比例接收器
准直器：固定或4个自动切换， 0.05 x
0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
基本滤片：固定或3个自动切换
测量距离可在0-80 mm范围内调整
固定样品支撑台 ，手动XY工作台
摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量
位置。刻度线经过校准，显示实际测量点
大小。
设计获得许可，防护**，符合德国X射线
条例第4章第3节

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®的典型应用领域：

大批量电镀件测量
防腐和装饰性镀层，如镍或铜上镀铬
电镀行业槽液分析
线路板行业如薄金，铂和镍镀层的策略
测量接插件和触点的镀层
电子和半导体行业的功能性镀层测量
黄金，珠宝和手表行业