日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100
详情介绍：
相位差膜・光学材料检查设备 RETS-100
对应范围广，从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应
产品信息
特 点
• 采用了偏光光学系和多通道分光检出器• 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板• **对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备
测量项目
• 封入cell gap• twist角• rubbing角• pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］• 空cell gap• 相位差（复折射相位差）的波长分散• 光学轴• 椭圆率/方位角• 三次元折射率/Rth/β• 分光光谱/色度
测量对象
• 液晶cell- 透过、半透过型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电）- 反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）• 光学材料- 其他（相位差・椭圆・偏光膜、液晶材料）
仕 样
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型号
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RETS series
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样品尺寸
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20mm×20mm ～ *
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cell gap测量范围
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0.1μm ～ 数10μm
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cell gap重复性
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±0.005μm
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检出器
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多通道分光光度计
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测量波长范围
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400nm ～ 800nm
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光学系透过用偏光子unit
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偏光光学系消光比 10-5内置Gran-tomson prism（方解石）自动旋转（角度精度0.1°）、自动装卸机构
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测量口径
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φ2, φ5, φ10 (mm)
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光轴倾斜机构
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-20 ～ 45°、-45 ～ 45°等
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* 大型玻璃基板也可用（2000mm×2000mm以上）
测量案例
相位差与液晶层间隙值
液晶面内分布图
长期供应 大冢光学OTSUKA RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 苏州市新杉本电子科技有限公司/ 日本大冢OTSUKA 苏州新杉本直销/联系人陈小姐15250013623